分析测试中心2023
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新闻动态

  • 分析测试中心特聘教授熊祎在二维材料基微纳器件研究方面取得新进展

    芯片材料缺陷问题一直是集成电路器件研究和生产领域的一个重要而复杂的问题,对集成芯片的性能发挥关键作用。为改善芯片性能,新兴的二维材料与传统的金属薄膜在半导体硅基衬底上持续集成,已在多功能传感器、集成电路、人工智能等工业领域得到了重要应用。对光电化学传感器来说,在器件加工中容易产生表面缺陷结构,引起载流子复合,降低器件性能。为有效提升载流子迁移效率,利用表面缺陷工程的光阱效应,修复微纳制造过程中产生的纳米尺度不平整光阱表面结构,...

    04/07 |2024

  • 2024年武汉纺织大学首场学术沙龙暨分析测试中心第1期测试论坛成功举行

    3月18日下午,由学校科学技术发展院主办,分析测试中心(以下简称中心)承办的2024年武汉纺织大学首场专题学术沙龙在崇真楼北楼B5035会议室成功举行。本场学术沙龙聚焦“文物保护与科技考古”,邀请到湖北省博物馆文保中心主任、研究馆员江旭东博士作题为“湖北省博物馆馆藏青铜国宝的科技解读”的主旨学术演讲。此次学术沙龙由中心主任沈爱国教授主持,参加学术论坛的有国家非遗文化学者、资产处赵金龙处长,分析测试专家、人事处李伟处长和分析测试中心的全体教师,...

    03/21 |2024

  • 徐卫林到分析测试中心调研指导

    为充分了解分析测试中心建设与发展情况,12月6日,校长、中国工程院院士徐卫林来到分析测试中心现场调研指导,分析测试中心全体工作人员参加调研会。  徐卫林参观了中心的各检测室,对实验室的功能分区、测试领域、仪器开放共享及对科研支撑保障,进行了细致的了解,对实验室的运行状况和职工精神风貌给予充分肯定。  座谈会上,徐卫林和中心全体成员面对面,询问大家的工作情况并进行深入交流。分析测试中心主任沈爱国从设备安装调试、...

    12/13 |2023

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