LaB6灯丝电子枪；
200Kv下TEM模式可进行选区电子衍射、样品形貌辨拍照及分析；束斑尺寸：TEM模式 20-200 nm；
加速电压： 80, 100, 120, 160, 200 KV；
合轴数据内置，步长50 V；
TEM放大倍数：LOW MAG模式 ×50-6 k；
MAG模式 ×2 k-1500 k；
点分辨率大于 0.19 nm。
广泛应用于材料、物理、化学等多个研究领域，JEM-2100电子光学系统稳定，全新的控制系统大幅提高了可操作性。可以用于研究金属、半导体和非金属类材料的微观形貌、内部结构、微区组成、晶体结构、结构缺陷等。
校内：300元/小时，铜网50元/个，送样200元/样。
1. 粉末样品粒径小于1um，厚度小于100nm，可分散在3mm载网上（纳米颗粒使用碳膜载网）；
2. 块体或薄膜样品根据实际需求选用离子减薄、聚焦离子束（FIB)、超薄切片等方法制备，厚度小于50nm，样品直径3mm；
3. 样品干燥（建议真空烘干）不含结晶水；
4. 不接磁性样品，如含有Fe, Co, Ni, Mn等磁性物质；
5. 不接受放射性、腐蚀性、有毒、易挥发、易升华（单质硫、碘等）、易燃易爆、不符合生物安全标准、电子束辐照后不稳定等类似样品。
