AFM分辨率：XY方向分辨率为0.2 nm；
标准扫描器：30 μm×30 μm×5 μm；
扫描速度：0.1-100 Hz；
最大样品尺寸：φ24 mm×8 mm。
广泛应用于表面分析的各个领域，通过对样品表面形貌的分析，以获得更深层次的信息，包括材料的表面形貌表面摩擦力、获得相界、分形结构等信息的空间三维图像。
校内：自测200元/小时，送样：100元/样，粉末样品150元/样，纤维样品200元/样；
校外：600元/小时，200元/样，粉末样品300元/样，纤维样品400元/样。
金属、半导体和非金属类材料。
