校内各单位：
分析测试中心X射线光电子能谱仪近日已安装调试完毕，即日起对校内开放试运行，欢迎校内师生预约测试！
一、仪器功能特色
X射线光电子能谱仪是一种研究材料表面和界面电子的重要分析方法。主要用于材料的表面几个原子层（1–10nm厚的表面）的化学组成、价态及功函数特性的分析与表征。可检测元素周期表中除H、He以外的所有元素。适用于分析纳米材料、无机化合物、聚合物、半导体、陶瓷、催化剂、玻璃、纸张、纺织品等固体材料。样品形态包括块状、薄膜、粉末等。在能源、化工、化学、物理、新材料、电子工业、冶金等领域均具有广泛的样品适用性。
二、仪器主要性能
单色化X射线Al靶射线源：Al kα，最大功率为600W，束斑300×700 μm2。能量分辨率和灵敏度（Ag 3d5/2）：Ag 3d5/2峰，半高宽≤0.45eV，峰强度≥180 kcps；能量扫描范围：0-3200eV。荷电中和系统：对PET绝缘样品，O-C=O结构中C1s峰的半峰宽≤0.68eV时，C-C结构中C1s峰的峰强度≥40kcps。
三、测试须知
试运行时长：截止1月19日（免费测试）
送样要求：
（1）所有样品必须无磁性，无挥发性，无腐蚀性，无毒性。在送样前必须进行干燥；粉末样品必须真空干燥，颗粒越细越好，否则影响测试性能。
（2）对于薄膜、片状、块状样品：厚度≤2 mm，长*宽≤5*5 mm，且应标记出测试面。
（3）样品中不得含有乙酸乙酯、氯仿、二氯甲烷、苯、环己烷、DMSO等有机溶剂；
（4）含有S单质、K和Na单质等易强烈氧化、放射性强的物质和磁性金属块体无法测试；
（5）含有F和I元素的挥发性样品，一旦有F和I元素挥发，则会严重污染腔体，因此不进行检测。
（6）对分析结果中一定会包含全谱扫描；窄谱分析会包含C元素，供委托人参考。
联系人：刘老师59367823，QQ：349862645
地点：崇真楼北楼B1021
分析测试中心
2024年1月4日
