10月23日上午，由学校科学技术发展院主办，分析测试中心（以下简称中心）承办的武汉纺织大学第685期阳光论坛暨分析测试中心第3期测试论坛在崇真楼北楼B3004会议室成功举行。本场论坛邀请到武汉大学刘英副教授作题为“XPS分析技术及应用简介”的学术报告。此次测试论坛由中心主任沈爱国教授主持。

本次报告主要围绕X射线光电子能谱（XPS）的发展历程、基本原理、仪器的结构组成、XPS分析方法的技术特点等方面展开。报告中，刘英副教授首先简要介绍了XPS测试方法的发展历程与仪器的结构组成特点。接着详细介绍了XPS分析方法的基本原理与测试方法特点。最后结合实际应用案例，对XPS仪器在元素的定性、定量、化学态分析以及深度分析等方面进行了详实的讲解。刘老师精湛的专业技能与深入浅出的讲解，深受广大师生的喜爱。报告后，学校师生积极踊跃提问，针对在XPS实际测试过程中的常见问题及仪器运行管理过程的棘手问题，刘老师给出了专业系统地的解答。

此次论坛的成功举办，为广大师生提供了与专家交流学习的机会，让学校师生加深了对XPS技术更加全面的了解，中心相关实验工作人员对于XPS应用技术也有了更深刻的理解，有利于后续XPS测试工作更加高效地运行。中心表示，将继续关注XPS技术及其他表面分析技术的发展动态，积极组织类似的学术交流活动，为科学研究和技术进步贡献力量。

个人简介：

刘英，武汉大学副教授，主要从事电子能谱的教学、科研和测试服务工作，为研究生讲授 “电子能谱分析”、“现代仪器分析方法”等课程20多年，先后使用过Kratos公司和Thermo公司的电子能谱仪，参编教材“有机波谱分析”中的“X射线光电子能谱”章节，具有丰富的电子能谱基本理论和实践经验。