5月31日下午，由学校科学技术发展院主办，分析测试中心（以下简称中心）承办的武汉纺织大学第634期阳光论坛暨分析测试中心第2期测试论坛在崇真楼北楼B5035会议室成功举行。本场论坛邀请到安徽大学集成电路研究院副院长曾玮教授作题为“传感器集成与先进封装测试技术”的学术报告。此次测试论坛由中心主任沈爱国教授主持。

报告中，曾玮教授详细介绍了合肥综合性国家科学中心安徽大学集成电路研究院大型仪器设备开放共享平台的技术管理、开放共享运行、科学研究、社会服务等方面的工作情况。向我校师生展示了集成电路产教研融合大型仪器设备先进平台面向学校“双一流”高质量建设目标的支撑作用，对安徽省集成电路战新产业、国家“长三角一体化”发展战略开展集成电路相关技术研发、集成电路相关人才培养情况。同时还分享了合肥综合性国家科学中心集成电路先进材料与技术产教研融合研究院的晶圆级成套加工制备设备、分析测试设备的大型仪器实验室开放共享运行、师生培训制度。最后介绍了课题组在器件叠层和先进封装测试方面研究工作，基于硅衬底，开发了光、静电耦合感知的光电化学型传感器，调配Bi10O6S9、WO3、黑磷等半导体光敏层、MXene等导电层，调节材料的晶格缺陷、界面能级，促进“光生载流子”、“电生载流子”的相互作用，提出了“肌电-光电”相结合的想法并进行机理分析和实验解析。报告后，中心师生与曾玮老师就大型仪器设备平台开放共享运行和师生培训、大型仪器平台对学校高水平科研和产学研服务支撑、各种大型仪器的分析测试表征技术、智能传感器在生物医疗、可穿戴领域的应用等方面研究前景开展了热烈的讨论。

此次测试论坛的成功举办，无疑为中心在提升工作效率与优化测试结果方面注入了新的活力与信心 。 中心将继续关注行业动态和技术发展趋势，不断优化和升级测试技术，为科研实验提供更为全面、高效的服务。

个人简介：

曾玮教授是安徽大学“至诚至坚”优秀人才，安徽大学集成电路先进材料与技术产教研融合研究院副教授，副院长，武汉大学微电子学与固体电子学博士、电子科学与技术博士后，现阶段主要从事合肥综合性国家科学中心集成电路产教研融合大型仪器和设备平台技术管理、开放共享运行和维护，智能器件的材料优化、器件设计、先进封装及应用研究；研发MEMS传感器、新型功率二极管、内存封装工艺、晶圆测试系统等。主持国家级/省级/产学研科研项目20余项，以第一作者或通讯作者在Nano energy，Chemical Engineering Journal，Nano-Micro Letters等期刊发表学术论文70余篇，授权国内外发明专利28项；担任Advanced Functional Materials，Journal of Materials Chemistry A等期刊审稿人。